HED-W5000M 晶圓ESD測試機 參考價：面議
晶圓ESD測試機,芯片ESD測試設(shè)備,ESD（靜電放電）測試是在半導(dǎo)體可靠性測試期間進行的。ESD測試對于半導(dǎo)體設(shè)計的開發(fā)和半導(dǎo)體制造的最終生產(chǎn)過程中的質(zhì)量保證...
HANWA HED-T5000 傳輸線脈沖 (TLP)測試設(shè)備 參考價：面議
目前，對于半導(dǎo)體器件的高集成度?高頻?高耐壓的需求逐年增加。對于在以往的TLP測試機無法完成的高電壓?大電流的特性測試，在TLP傳輸線脈沖測試儀上得以實現(xiàn)、并有...
HED-N5000 全自動ESD測試系統(tǒng) 參考價：面議
芯片ESD測試設(shè)備，HED-N5000 全自動ESD測試系統(tǒng)，ESD（靜電放電）測試是在半導(dǎo)體可靠性測試期間進行的。ESD測試對于半導(dǎo)體設(shè)計的開發(fā)和半導(dǎo)體制造的...
ESD測試機 參考價：面議
芯片ESD測試設(shè)備,HANWA HCE-5000ESD測試機是在半導(dǎo)體可靠性測試期間進行的。ESD測試對于半導(dǎo)體設(shè)計的開發(fā)和半導(dǎo)體制造的生產(chǎn)過程中的質(zhì)量保證都是...
全自動芯片ESD測試設(shè)備 參考價：8000000
Hanwa ESD HED-G5000 全自動芯片ESD測試設(shè)備近年來，自動駕駛技術(shù)逐漸成為Tier1汽車電子智能系統(tǒng)的超前先進技術(shù)，解決自動駕駛技術(shù)的關(guān)鍵在于...
ZEISS 光學(xué)微光顯微鏡 參考價：面議
emmi微光顯微鏡,ZEISS 光學(xué)微光顯微鏡產(chǎn)品特點：具有優(yōu)化的操作理念。擁有更高襯度和更高分辨率的新型光學(xué)系統(tǒng)。 基于“向前看"理念的升級設(shè)計。
掃描電鏡 參考價：面議
掃描電鏡擁有高品質(zhì)成像和先進分析功能的場發(fā)射掃描電子顯微鏡 Sigma 系列。Sigma 系列產(chǎn)品將場發(fā)射掃描電子顯微鏡技術(shù)與良好的用戶體驗緊密地結(jié)合在一起。
半導(dǎo)體場發(fā)射掃描電鏡 參考價：面議
GeminiSEM 560 引進了 Gemini 3 型鏡筒，創(chuàng)下了表面成像技術(shù)新高度。 Smart Autopilot 這一新型智能自動光路調(diào)節(jié)引擎是為方便您...
半導(dǎo)體光學(xué)/共聚焦顯微鏡 參考價：面議
半導(dǎo)體光學(xué)/共聚焦顯微鏡憑借著多年的行業(yè)經(jīng)驗及技術(shù)積累，我們可以為客戶提供半導(dǎo)體在片測試解決方案、材料電性能測試設(shè)備、微波射頻器件測量等測試技術(shù)服務(wù)。
德國進口晶圓光學(xué)檢測設(shè)備 參考價：面議
德國進口晶圓光學(xué)檢測設(shè)備憑借著多年的行業(yè)經(jīng)驗及技術(shù)積累，我們可以為客戶提供半導(dǎo)體在片測試解決方案、材料電性能測試設(shè)備、微波射頻器件測量等測試技術(shù)服務(wù)。
芯片封裝焊接強度測試儀 參考價：面議
芯片封裝焊接強度測試儀憑借著多年的行業(yè)經(jīng)驗及技術(shù)積累，我們可以為客戶提供半導(dǎo)體在片測試解決方案、材料電性能測試設(shè)備、微波射頻器件測量等測試技術(shù)服務(wù)。
HANWA ESD測試全部設(shè)備簡介 參考價：面議
ESD測試設(shè)備,芯片ESD（靜電放電）測試是在半導(dǎo)體可靠性測試期間進行的。ESD測試對于半導(dǎo)體設(shè)計的開發(fā)和半導(dǎo)體制造的最終生產(chǎn)過程中的質(zhì)量保證都是不可少的。HE...
HANWA HED-C5000R CDM測試設(shè)備 參考價：面議
CDM測試儀,CDM測試設(shè)備適用于汽車芯片可靠性測試AEC標(biāo)準(zhǔn)中~靜電CDM測試設(shè)備
HED-W5100D 全自動晶圓ESD測試機 參考價：面議
ESD（靜電放電）測試是在半導(dǎo)體可靠性測試期間進行的。ESD測試對于半導(dǎo)體設(shè)計的開發(fā)和半導(dǎo)體制造的最終生產(chǎn)過程中的質(zhì)量保證都是不可少的。HED-W5100D 全...(空格分隔,最多3個,單個標(biāo)簽最多10個字符)
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